กรุณาใช้ตัวระบุนี้เพื่ออ้างอิงหรือเชื่อมต่อรายการนี้: https://has.hcu.ac.th/xmlui/handle/123456789/5456
ระเบียนเมทาดาทาแบบเต็ม
ฟิลด์ DC ค่าภาษา
dc.contributor.advisorมาริสสา ทรงพระ-
dc.contributor.advisorMarsisa Songpra-
dc.contributor.authorอภิรักษ์ อาภาภรณ์-
dc.contributor.authorApirak Arpaporn-
dc.contributor.otherHuachiew Chalermprakiet University. Faculty of Business Administration-
dc.date.accessioned2026-05-02T06:33:42Z-
dc.date.available2026-05-02T06:33:42Z-
dc.date.issued2011-
dc.identifier.urihttps://has.hcu.ac.th/jspui/handle/123456789/5456-
dc.descriptionการศึกษาอิสระ (บธ.ม.) (การจัดการอุตสาหกรรม) -- มหาวิทยาลัยหัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ, 2554en
dc.description.abstractการศึกษาอิสระฉบับนี้มีวัตถุประสงค์ เพื่อศึกษากระบวนการชุบนิคเกิลบนแผ่นพิมพ์ลายวงจรไฟฟ้า หาปัจจัยการชุบนิคเกิลหนากว่าข้อกำหนดบนแผ่นพิมพ์ลายวงจรไฟฟ้า ค้นหาแนวทางในการลดของเสียจากชุบนิคเกิลหนากว่าข้อกำหนดของแผ่นพิมพ์ลายวงจรไฟฟ้า และการลดของเสียที่เกิดจากกระบวนการชุบนิคเกิลหนา ของบริษัท เค ซี เอล อิเลคทรอนิคส์ (ประเทศไทย) จำกัด จากการศึกษาข้อมูลเกี่ยวกับขั้นตอนการชุบนิคเกิล และวัดค่าความหนาของนิคเกิลด้ายแนวคิด 6 Sigma และเครื่องมือด้านคุณภาพ คือ แผนภูมิก้างปลา FMEA แผนภูมิ Pareto และหลักการคำนวณด้วยหลักสถิติทำให้ทราบความสามารถการชุบนิคเกิล เมื่อเปรียบเทียบกับข้อกำหนดความหนาของนิคเกิลที่ 4-6 ไมครอนอยู่ที่ Ppk 0.2 ทำให้ผู้ศึกษาและผู้ผลิตน้ำยาชุบนิคเกิลร่วมพิจารณาถึงปัจจัยที่สามารถปรับปรุงความหนาของนิคเกิล ซึ่งได้ข้อสรุปว่า จะปรับอุณหภูมิและเวลาชุบลดลง และผลการทดลองชุบพบว่าการลดอุณหภูมิลง 5 องศาเซลเซียล และลดเวลาชุบลดลง 5 นาที สามารถปรับปรุงค่าความหนาของนิคเกิลที่ชุบได้ และได้ค่า Ppk 1.04 แสดงว่าสามารถลดปัญหาการชุบนิคเกิลหนากว่าข้อกำหนดได้ 90 เปอร์เซ็นต์ ดังนั้น จึงทำการประเมินผลของความรุนแรงของปัญหานิคเกิลหนา และระบบวิธีการแก้ไขไว้ในเอกสาร FMEA รวมทั้งดำเนินการระบุแนวทางการควบคุมการชุบนิคเกิลในเอกสาร Control Plan ผลการปรับปรุงที่ได้ยังไม่บรรลุเป้าหมาย Ppk 1.33 ดังนั้น ทีมผู้บริหารยังคงสนับสนุนให้ทีมวิศวกร และผู้ผลิตน้ำยาชุบนิคเกิลดำเนินการวางแผนแก้ไขร่วมกับผู้ผลิตเครื่องจักร เพื่อร่วมกันศึกษาหาแนวทางในการปรับปรุงความสามารถของการชุบนิคเกิลเพื่อให้บรรลุเป้าหมายen
dc.language.isothen
dc.publisherมหาวิทยาลัยหัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติen
dc.rightsมหาวิทยาลัยหัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติen
dc.subjectบริษัท ซี เค เอล อิเล็คทรอนิคส์ (ประเทศไทย) จำกัด td.en
dc.subjectCKL Electronics (Thailand) Co., Len
dc.subjectนิกเกิลen
dc.subjectNickelen
dc.subjectการชุบนิกเกิลen
dc.subjectNickel-platingen
dc.subjectการควบคุมความสูญเปล่าen
dc.subjectLoss controlen
dc.subjectซิกซ์ซิกมา (มาตรฐานการควบคุมคุณภาพ)en
dc.subjectSix sigma (Quality control standard)en
dc.subjectFailure Mode and Effect Analysisen
dc.subjectการวิเคราะห์ข้อบกพร่องและผลกระทบen
dc.subjectมนุษยศาสตร์และสังคมศาสตร์en
dc.titleแนวทางและวิธีแก้ไขปัญหาการชุบนิเกิลหนากว่าข้อกำหนด 4-6 ไมครอน :กรณีศึกษา บริษัท ซี เค เอล อิเล็คทรอนิคส์ (ประเทศไทย) จำกัดen
dc.title.alternativeTrouble Shooting the Nickel Thickness over Specification 4-6 Micron : A Case Study of CKL Electronics (Thailand) Co., Ltd.en
dc.typeIndependent Studiesen
dc.degree.nameบริหารธุรกิจมหาบัณฑิตen
dc.degree.levelปริญญาโทen
dc.degree.disciplineการจัดการอุตสาหกรรมen
ปรากฏในกลุ่มข้อมูล:Business Administration - Independent Studies

แฟ้มในรายการข้อมูลนี้:
แฟ้ม รายละเอียด ขนาดรูปแบบ 
Trouble-Shooting-the-Nickel-Thickness-Over-Specification-4-6-Micron.pdf
  Restricted Access
8.08 MBAdobe PDFดู/เปิด Request a copy


รายการทั้งหมดในระบบคิดีได้รับการคุ้มครองลิขสิทธิ์ มีการสงวนสิทธิ์เว้นแต่ที่ระบุไว้เป็นอื่น