กรุณาใช้ตัวระบุนี้เพื่ออ้างอิงหรือเชื่อมต่อรายการนี้:
https://has.hcu.ac.th/xmlui/handle/123456789/5456ระเบียนเมทาดาทาแบบเต็ม
| ฟิลด์ DC | ค่า | ภาษา |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | มาริสสา ทรงพระ | - |
| dc.contributor.advisor | Marsisa Songpra | - |
| dc.contributor.author | อภิรักษ์ อาภาภรณ์ | - |
| dc.contributor.author | Apirak Arpaporn | - |
| dc.contributor.other | Huachiew Chalermprakiet University. Faculty of Business Administration | - |
| dc.date.accessioned | 2026-05-02T06:33:42Z | - |
| dc.date.available | 2026-05-02T06:33:42Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.uri | https://has.hcu.ac.th/jspui/handle/123456789/5456 | - |
| dc.description | การศึกษาอิสระ (บธ.ม.) (การจัดการอุตสาหกรรม) -- มหาวิทยาลัยหัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ, 2554 | en |
| dc.description.abstract | การศึกษาอิสระฉบับนี้มีวัตถุประสงค์ เพื่อศึกษากระบวนการชุบนิคเกิลบนแผ่นพิมพ์ลายวงจรไฟฟ้า หาปัจจัยการชุบนิคเกิลหนากว่าข้อกำหนดบนแผ่นพิมพ์ลายวงจรไฟฟ้า ค้นหาแนวทางในการลดของเสียจากชุบนิคเกิลหนากว่าข้อกำหนดของแผ่นพิมพ์ลายวงจรไฟฟ้า และการลดของเสียที่เกิดจากกระบวนการชุบนิคเกิลหนา ของบริษัท เค ซี เอล อิเลคทรอนิคส์ (ประเทศไทย) จำกัด จากการศึกษาข้อมูลเกี่ยวกับขั้นตอนการชุบนิคเกิล และวัดค่าความหนาของนิคเกิลด้ายแนวคิด 6 Sigma และเครื่องมือด้านคุณภาพ คือ แผนภูมิก้างปลา FMEA แผนภูมิ Pareto และหลักการคำนวณด้วยหลักสถิติทำให้ทราบความสามารถการชุบนิคเกิล เมื่อเปรียบเทียบกับข้อกำหนดความหนาของนิคเกิลที่ 4-6 ไมครอนอยู่ที่ Ppk 0.2 ทำให้ผู้ศึกษาและผู้ผลิตน้ำยาชุบนิคเกิลร่วมพิจารณาถึงปัจจัยที่สามารถปรับปรุงความหนาของนิคเกิล ซึ่งได้ข้อสรุปว่า จะปรับอุณหภูมิและเวลาชุบลดลง และผลการทดลองชุบพบว่าการลดอุณหภูมิลง 5 องศาเซลเซียล และลดเวลาชุบลดลง 5 นาที สามารถปรับปรุงค่าความหนาของนิคเกิลที่ชุบได้ และได้ค่า Ppk 1.04 แสดงว่าสามารถลดปัญหาการชุบนิคเกิลหนากว่าข้อกำหนดได้ 90 เปอร์เซ็นต์ ดังนั้น จึงทำการประเมินผลของความรุนแรงของปัญหานิคเกิลหนา และระบบวิธีการแก้ไขไว้ในเอกสาร FMEA รวมทั้งดำเนินการระบุแนวทางการควบคุมการชุบนิคเกิลในเอกสาร Control Plan ผลการปรับปรุงที่ได้ยังไม่บรรลุเป้าหมาย Ppk 1.33 ดังนั้น ทีมผู้บริหารยังคงสนับสนุนให้ทีมวิศวกร และผู้ผลิตน้ำยาชุบนิคเกิลดำเนินการวางแผนแก้ไขร่วมกับผู้ผลิตเครื่องจักร เพื่อร่วมกันศึกษาหาแนวทางในการปรับปรุงความสามารถของการชุบนิคเกิลเพื่อให้บรรลุเป้าหมาย | en |
| dc.language.iso | th | en |
| dc.publisher | มหาวิทยาลัยหัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ | en |
| dc.rights | มหาวิทยาลัยหัวเฉียวเฉลิมพระเกียรติ | en |
| dc.subject | บริษัท ซี เค เอล อิเล็คทรอนิคส์ (ประเทศไทย) จำกัด td. | en |
| dc.subject | CKL Electronics (Thailand) Co., L | en |
| dc.subject | นิกเกิล | en |
| dc.subject | Nickel | en |
| dc.subject | การชุบนิกเกิล | en |
| dc.subject | Nickel-plating | en |
| dc.subject | การควบคุมความสูญเปล่า | en |
| dc.subject | Loss control | en |
| dc.subject | ซิกซ์ซิกมา (มาตรฐานการควบคุมคุณภาพ) | en |
| dc.subject | Six sigma (Quality control standard) | en |
| dc.subject | Failure Mode and Effect Analysis | en |
| dc.subject | การวิเคราะห์ข้อบกพร่องและผลกระทบ | en |
| dc.subject | มนุษยศาสตร์และสังคมศาสตร์ | en |
| dc.title | แนวทางและวิธีแก้ไขปัญหาการชุบนิเกิลหนากว่าข้อกำหนด 4-6 ไมครอน :กรณีศึกษา บริษัท ซี เค เอล อิเล็คทรอนิคส์ (ประเทศไทย) จำกัด | en |
| dc.title.alternative | Trouble Shooting the Nickel Thickness over Specification 4-6 Micron : A Case Study of CKL Electronics (Thailand) Co., Ltd. | en |
| dc.type | Independent Studies | en |
| dc.degree.name | บริหารธุรกิจมหาบัณฑิต | en |
| dc.degree.level | ปริญญาโท | en |
| dc.degree.discipline | การจัดการอุตสาหกรรม | en |
| ปรากฏในกลุ่มข้อมูล: | Business Administration - Independent Studies | |
แฟ้มในรายการข้อมูลนี้:
| แฟ้ม | รายละเอียด | ขนาด | รูปแบบ | |
|---|---|---|---|---|
| Trouble-Shooting-the-Nickel-Thickness-Over-Specification-4-6-Micron.pdf Restricted Access | 8.08 MB | Adobe PDF | ดู/เปิด Request a copy |
รายการทั้งหมดในระบบคิดีได้รับการคุ้มครองลิขสิทธิ์ มีการสงวนสิทธิ์เว้นแต่ที่ระบุไว้เป็นอื่น